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基于HMC5883三轴传感器的校正磁场系统设计与研究
发布日期:2018-04-16  来源:仪表技术与传感器   浏览次数:14
核心提示:摘要:针对微弱磁场在越来越多先进领域的广泛应用,但其受到周围环境影响出现毛刺以及跳变的问题也随之而来。本文提出一种基于HMC5883与32位STM32F103
摘 要:针对微弱磁场在越来越多先进领域的广泛应用,但其受到周围环境影响出现毛刺以及跳变的问题也随之而来。本文提出一种基于HMC5883与32位STM32F103结合的微弱磁场测量的硬件设计,以及一种基于三轴球状测量体系的角度补偿校正方法,并且通过MATLAB软件进行线性拟合,来校正微弱磁场受到周围环境影响出现的阶跃跳变。多次实验测试得知,系统可以有效的滤除阶跃跳变和突变现象,即去除周围环境变化对磁场的影响,使测试的磁场数据更加稳定。结果表明:本系统可以测量并且校正受到环境因素影响的微弱磁场。
关键词:磁场测量;磁阻传感器;校正
0 引 [收稿日期:2007-02-01
基金项目:山西省基础研究项目自然科学基金(2013011017-3)
] 言
随着时代的发展以及科技的不断进步,在军事、生物、航空以及医学等领域,微弱磁场的测量已经获得了相当多的应用。并且随着这些领域的不断发展,对微弱磁场精度等技术参数的要求也不断的增加,从而进一步促使了微弱磁场测量技术的进步。针对这些新的要求,本文选用的高精度的磁阻传感器,并且以超低功耗STM32F103为主芯片,提出一种小型化、低功耗、可靠性高的微弱磁场测量系统的硬件设计方法,磁场测量选用霍尼韦尔公司的HMC5883三轴高精度磁阻传感器,并且提出一种通过加速度对磁场进行校正的方法,来校正微弱磁场因为周围环境的影响带来的磁场的变化[1]。
作者:刘阿建
 
 
 
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